×
دليل المستخدم
Younis، H. S. H.، و Rattroot، A. (2024). Silicon Wafer Defects Classification Using Deep Learning Techniques (رسالة ماجستير غير منشورة). الجامعة العربية الأمريكية - جنين، جنين. مسترجع من http://search.mandumah.com/Record/1559259
Younis، Hussein Salah Hussein، و Amjad Rattroot. "Silicon Wafer Defects Classification Using Deep Learning Techniques" رسالة ماجستير. الجامعة العربية الأمريكية - جنين، جنين، 2024. مسترجع من http://search.mandumah.com/Record/1559259