ارسل ملاحظاتك

ارسل ملاحظاتك لنا







يجب تسجيل الدخول أولا

Structural characterization and elelcrical properties of PbTe thin films

المصدر: مجلة كلية التربية
الناشر: الجامعة المستنصرية - كلية التربية
المؤلف الرئيسي: قزاز، عباس (مؤلف)
المجلد/العدد: ع 1
محكمة: نعم
الدولة: العراق
التاريخ الميلادي: 2011
الصفحات: 266 - 273
ISSN: 1812-0380
رقم MD: 423941
نوع المحتوى: بحوث ومقالات
اللغة: الإنجليزية
قواعد المعلومات: EduSearch
مواضيع:
رابط المحتوى:
صورة الغلاف QR قانون
حفظ في:
المستخلص: تم تحضير أغشية رقيقة من المركب PbTe على قواعد زجاجية نظيفة بدرجة حرارة الغرفة بطريقة الترسيب الحراري بالفراغ، وتم الحصول على السمك 0.04 من دراسة حيود الأشعة السينية للغشاء وجد إن الغشاء ذا تركيب متعدد التبلور، ومنها تم دراسة الخصائص التركيبية مثل المسافة البينية d، ثابت الشبيكة a، حجم الحبيبة D و كثافة التشوه p. تم قياس الخصائص الكهربائية للعشاء مثل معامل سبباك S، التوصيلية الكهربائية وعامل القدرة P بدرجة حرارة K(453-288). وجد قيمة طاقة التنشيط الكهرو حراري تساوي Es= 0.19 eV وطاقة التنشيط الكهربائية تتراوح عند ثلاث قيم Ea1=0.137eV، Ea2=0.194 eV و Ea3=0.162 Ev

Thin film of PbTe compound have been prepared on clean glass substrate at K by vacuum deposition. The thickness of the deposited film is . µm. The film has polycrystalline structure, which are indefied by x-ray diffraction. The structural parameters such as interplaner distance d, lattice parameter a, grain size D and dislocation density ρ have been determined. The electrical properties such as Seebeck coefficient S, electrical conductivity σ and power factor P at (288-453)K have been estimated and it was found that the thermopower activation energy Es=0.19 eV and activation energy of electrical conductivity have three values Ea1 =0.137 eV, Ea2 =0.194eV and Ea3 =0.162eV.

وصف العنصر: مستخلص الدراسة باللغة العربية
ISSN: 1812-0380

عناصر مشابهة