ارسل ملاحظاتك

ارسل ملاحظاتك لنا







يجب تسجيل الدخول أولا

Characteristics of Irradiated Germanium Thin Films Deposited onto Silicon Substrates by Rutherford Backscattering and Thermoluminescence

العنوان بلغة أخرى: دراسة خواص رقائق جيرمانيوم مشععة مبخرة على ركائز من السيليكون باستخدام تقنيتي التشتت الخلفي والتوهج الحراري
المؤلف الرئيسي: Salem, Shadi Mohammed (Author)
مؤلفين آخرين: Arafah, Dia Aldin M. (Advisor)
التاريخ الميلادي: 2003
موقع: عمان
الصفحات: 1 - 54
رقم MD: 548146
نوع المحتوى: رسائل جامعية
اللغة: الإنجليزية
الدرجة العلمية: رسالة ماجستير
الجامعة: الجامعة الاردنية
الكلية: كلية الدراسات العليا
الدولة: الاردن
قواعد المعلومات: Dissertations
مواضيع:
رابط المحتوى:
صورة الغلاف QR قانون
حفظ في: