يجب تسجيل الدخول أولا
Characterization of Si-Fe Systems by Rutherford Backscattering Spectrometry
| العنوان بلغة أخرى: |
تعيين خواص أنظمة Si-Fe بواسطة مطيافية تشتت رذرفورد الخلفي |
|---|---|
| المؤلف الرئيسي: | Bouzieh, Tahani Abd Alhafez (auth) |
| مؤلفين آخرين: | Arafah, Dia Aldin M. (Advisor) |
| التاريخ الميلادي: |
2004
|
| موقع: | عمان |
| الصفحات: | 1 - 54 |
| رقم MD: | 605904 |
| نوع المحتوى: | رسائل جامعية |
| اللغة: | الإنجليزية |
| الدرجة العلمية: | رسالة ماجستير |
| الجامعة: | الجامعة الاردنية |
| الكلية: | كلية الدراسات العليا |
| الدولة: | الاردن |
| قواعد المعلومات: | Dissertations |
| مواضيع: | |
| رابط المحتوى: |
عدد مرات التحميل
2
عناصر مشابهة
-
Rutherford Backscattering Spectrometry: Review
بواسطة: Abrass, Hameda Ali منشور: (2023) -
Characterization of ar Ion Implanted Quartz by Rutherford Backscattering and Thermoluminescence
بواسطة: ابواسليمة، خديجة عبداللطيف منشور: (2000) -
Study of the Charactaristics of Doped and ion Irradiated KBr Phosphors Studied by Rutherford Backscattering
بواسطة: الدرابيع، الليث تركي يوسف منشور: (2004) -
Atomic Negative Ion Survey Using Accelerator Mass Spectrometry
بواسطة: Garwan, Muhammad Ahmad منشور: (1993) -
Pseudorotation in Jahn-Teller Systems
بواسطة: Sindi, Lubna M. منشور: (2008)
