×
دليل المستخدم
Al Yamani، A. A.، و McCluskey، E. J. (2004). Deterministic built-in self test for digital circuits (رسالة دكتوراه غير منشورة). Stanford University، ستانفورد. مسترجع من http://search.mandumah.com/Record/614816
Al Yamani، Ahmad A.، و Edward J. McCluskey. "Deterministic Built-in Self Test for Digital Circuits" رسالة دكتوراه. Stanford University، ستانفورد، 2004. مسترجع من http://search.mandumah.com/Record/614816