اقتباسات السجل

نمط اقتباس:

APA إسلوب

AI Arfaj، E. A. A.، و Alavi، K. (2001). Characterization of Deep-Levels in Semiconductors by Photo Reflectance Spectroscopy (رسالة دكتوراه غير منشورة). University of Texas at Dallas، ريتشاردسون. مسترجع من http://search.mandumah.com/Record/616653

MLA إسلوب

AI Arfaj، Esam Abd Allah، و Kambiz Alavi. "Characterization of Deep-Levels in Semiconductors By Photo Reflectance Spectroscopy" رسالة دكتوراه. University of Texas at Dallas، ريتشاردسون، 2001. مسترجع من http://search.mandumah.com/Record/616653

تنبيه: هذه الاقتباسات قد لا تكون دقيقة 100%.

دليل المستخدم

دليل الفيديو