ارسل ملاحظاتك

ارسل ملاحظاتك لنا







نمط اقتباس:
APA إسلوب

Khera، V. K.، Sharma، R. K.، و Gupta، A. K. (2019). A Heuristic Fault Based Optimization Approach To Reduce Test Vectors Count In VLSI Testing. مجلة جامعة الملك سعود - علوم الحاسب والمعلومات، مج31, ع2 ، 229 - 234. مسترجع من http://search.mandumah.com/Record/974622

MLA إسلوب

Khera، Vinod Kumar، Ravi K. Sharma، و A. K. Gupta. "A Heuristic Fault Based Optimization Approach To Reduce Test Vectors Count In VLSI Testing." مجلة جامعة الملك سعود - علوم الحاسب والمعلومات مج31, ع2 (2019): 229 - 234. مسترجع من http://search.mandumah.com/Record/974622

تنبيه: هذه الاقتباسات قد لا تكون دقيقة 100%.