المؤلف الرئيسي: | شناي، سارة (مؤلف) |
---|---|
مؤلفين آخرين: | ابن مبروك، لزهر (مشرف) |
التاريخ الميلادي: |
2018
|
موقع: | ورقلة |
الصفحات: | 1 - 48 |
رقم MD: | 1161547 |
نوع المحتوى: | رسائل جامعية |
اللغة: | العربية |
الدرجة العلمية: | رسالة ماجستير |
الجامعة: | جامعة قاصدي مرباح - ورقلة |
الكلية: | كلية الرياضيات وعلوم المادة |
الدولة: | الجزائر |
قواعد المعلومات: | Dissertations |
مواضيع: | |
رابط المحتوى: |
المستخلص: |
في هذه المذكرة تمكنا من تحديد درجة حرارة بلازما النحاس بالهواء وكذا الكثافة الإلكترونية للوسط الناتج انطلاقا من دراسة الأطياف الناتجة عن البلازما المتشكلة إثر التسامي بالليزر وبناءا على هذا تم شرح وتوضيح التركيب التجريبي الذي من خلاله تحصلنا على الأطياف التجريبية المتعلقة بالنحاس تم التطرق للنموذج المتبع من أجل تحديد العناصر المشعة، حيث يعتمد هذا النموذج على معادلات التوازن الترموديناميكي ومعطيات الفيزياء الذرية. وكانت درجة الحرارة الإلكترونية للوسط (3.26 ev) وكذا الكثافة الإلكتروني (1.22×1026 cm-3) ضمن التصنيف المعتمد للبلازما المخبرية الناتجة عن المعادن. |
---|