المؤلف الرئيسي: | Djerou, Houssam-Eddine (Author) |
---|---|
مؤلفين آخرين: | Hamel, Khaled (Co-Author) , Rezgui, Imane (Advisor) |
التاريخ الميلادي: |
2018
|
موقع: | ورقلة |
الصفحات: | 1 - 62 |
رقم MD: | 1162400 |
نوع المحتوى: | رسائل جامعية |
اللغة: | الفرنسية |
الدرجة العلمية: | رسالة ماجستير |
الجامعة: | جامعة قاصدي مرباح - ورقلة |
الكلية: | كلية العلوم التطبيقية |
الدولة: | الجزائر |
قواعد المعلومات: | Dissertations |
مواضيع: | |
رابط المحتوى: |
المستخلص: |
في هذه الدراسة، استخدمنا المنطق الضبابي للتنبؤ بعمق التآكل الإلكتروليتي Ni-P وNi-P-W تحت ظروف مشحمة. تظهر النتائج التي تم العثور عليها اتفاقا جيدا بين النتائج التجريبية والقيم المتوقعة التي تم الحصول عليها من خلال النموذج الضبابي، ونسب الخطأ والدقة كانت 1.23%، 98.77%، للطلاء Ni-P و4.62%، 95.38% للطلاء Ni-P-W. |
---|