العنوان بلغة أخرى: |
Studies on Schizophrenia in Adolescence in Light of the Rorschach Test and Thematic Apperception Test |
---|---|
المصدر: | مجلة الناصرية للدراسات الاجتماعية والتاريخية |
الناشر: | جامعة معسكر - مخبر البحوث الاجتماعية والتاريخية |
المؤلف الرئيسي: | فضيلى، فتيحة (مؤلف) |
المجلد/العدد: | مج12, ع2 |
محكمة: | نعم |
الدولة: |
الجزائر |
التاريخ الميلادي: |
2021
|
الشهر: | ديسمبر |
الصفحات: | 589 - 618 |
ISSN: |
2170-1822 |
رقم MD: | 1214095 |
نوع المحتوى: | بحوث ومقالات |
اللغة: | العربية |
قواعد المعلومات: | HumanIndex |
مواضيع: | |
كلمات المؤلف المفتاحية: |
الفصام | اختبار | الرورشاخ | اختبار تفهم الموضوع | المراهقة | Schizophrenia | Rorschach | Thematic Apperception Test | Adolescence
|
رابط المحتوى: |
الناشر لهذه المادة لم يسمح بإتاحتها. |
المستخلص: |
يهدف المقال إلى عرض بعض الدراسات الميدانية التي انشغلت بموضوع الذهان وبالأخص الفصام لدى فئة عمرية جد هامة وهي مرحلة المراهقة، وذلك من خلال مساهمات اختباري الرورشاخ وتفهم الموضوع في تشخيص وتحليل التوظيف النفسي لدى المراهقين الفصاميين، معتمدين في ذلك على منهج مدرسة باريس كمرجع نظري ومنهجي لهذا المقال. في هذه الدراسات ركز المؤلفون على إبراز القضايا المتعلقة بتشخيص الذهان الفصامي في الاختبارات الإسقاطية، وكيف أن هذه الأخيرة تكشف عن التوظيف الذهاني الكامن، ومدى تأثيره على العلاج وتطوره. This article aims to present some field studies that have been concerned about psychosis, particularly schizophrenia in a very important age group, adolescence, through the contributions of the Rorschach and Thematic Apperception Test (TAT), tests in the diagnosis and analysis of psychological employment in schizophrenic adolescents, based on the Paris School method as a theoretical and systematic reference to this article. In these studies, the authors focused on highlighting issues related to the diagnosis of schizophrenia by projective tests, and how the latter lead to the recognition of an underlying psychotic functioning, will illustrate the essential contribution of projective tests to the evidencing of this psychotic structure and its impact on treatment and evolution. |
---|---|
ISSN: |
2170-1822 |