ارسل ملاحظاتك

ارسل ملاحظاتك لنا







الرئيسية > Structural and Optical Propert...>الوصف

Structural and Optical Properties of SnO2 Doped ZnO thin Films Prepared by Pulsed Nd:YAG Laser Deposition

العنوان بلغة أخرى: الخصائص التركيبية والبصرية لأغشية أوكسيد الزنك المشوبة بأوكسيد القصدير الرقيقة باستخدام الترسيب لليزر Nd:YAG النبضي
المصدر: مجلة كلية التربية
الناشر: الجامعة المستنصرية - كلية التربية
المؤلف الرئيسي: عادم، كاظم عبدالواحد (مؤلف)
مؤلفين آخرين: عيسى، منى أحمد (م. مشارك)
المجلد/العدد: ع3
محكمة: نعم
الدولة: العراق
التاريخ الميلادي: 2019
الصفحات: 109 - 122
ISSN: 1812-0380
رقم MD: 1236339
نوع المحتوى: بحوث ومقالات
اللغة: الإنجليزية
قواعد المعلومات: EduSearch
مواضيع:
أوكسيد الزنك | الطاقة البصرية | أوكسيد القصدير
كلمات المؤلف المفتاحية:
(ZnO)x-1(SnO2)x Pulse Laser Deposition (PLD) Growth | AFM | XRD | Optical Properties
رابط المحتوى:

الناشر لهذه المادة لم يسمح بإتاحتها.
صورة الغلاف QR قانون
حفظ في:
المستخلص: تم ترسيب أغشية أوكسيد الزنك الرقيقة عند درجة حرارة الغرفة بتراكيز مختلفة من أوكسيد القصدير wt.% (0,6.1، 0,4، 0,2، 0)x=. على قواعد زجاجية بواسطة تقنية الترسيب بالليزر النبضي باستخدام ليزر Nd-YAG ذو (طول موجي 1064 نانومتر) و(طاقة قدرها 700 ملي جول) و(عدد نبضات 200 نبضة)، الخصائص التركيبة والبصرية للأغشية التي تم ترسيبها أجريت (باستخدام حيود الأشعة السينية ومجهر القوة الذري ومطياف الأشعة فوق البنفسجية). تم دراسة تأثير تركيز اوكسيد القصدير على هذه الخصائص. أثبتت نتائج حيود الأشعة السينية بأن أوكسيد الزنك يمتلك طبقة رقيقة من الكريستالات من نوع wurtzite مع نظام سداسي وضهور العديد من القمم عند أسطح الانعكاس [(100)، (002)، (101)، (012) و(110)] على التوالي، كما تم دراسة الخواص البصرية للأغشية الرقيقة عن طريق تحليل طيف (النفاذية والامتصاصية) وتم إيجاد فجوة الطاقة البصرية للأغشية التي تم تحضريها وكانت تساوي (2,25، 2,33، 2,34، 2,54، 2,10) الكترون فولت بتراكيز مختلفة من أوكسيد القصدير wt.% (0.6,1، 0,4، 0,2، 0) x= على التوالي، عند طول موجي 500 نانومتر تم حساب معامل الخمود ومعامل الانكسار.

In this work the thin films of ZnO were deposited at room temperature and were doped with different concentrations of SnO2 thin films wich equal (x=0,0.2,0.4,0.6,1). The deposition process was carried out on glass substrates with a technique (PLD) that included the use of wave length equal to (1064nm) and the energy its amount (400 mj) and the pulses number used (200 puls). The structural properties and optical properties of as deposited films were transported out using (XRD), UV–vis and AFM. The effect of SnO2 content on these Characteristics was investigated properties by (XRD) show The thin films for ZnO have a hexagonal system, with wurtzite. type Polycrystalline and numerous peaks [(100), (002), (101), (012) and (110)] respectively, were show. Moreover AFM investigation appears no clefts in the created layer. The optical properties related to the transition and absorption spectra of thin films prepared using the near-infrared UV spectrometer. The results appear that (T) of Zinc oxide film in visible domain reachs nearly 34.45%,Optical band gaps were found to be (2.54, 2.34, 2.33, 2.25 and 2.10) eV for different concentration of SnO2 (X=0,0.2,0.4,0.6and1) wt% respectively. At (500 nm) extinction coefficient and the refractive index were determined.
ISSN: 1812-0380

عناصر مشابهة


© 2024 المنظومة. جميع الحقوق محفوظة.