ارسل ملاحظاتك

ارسل ملاحظاتك لنا







الرئيسية > Proposed Combining Process Tec...>الوصف

Proposed Combining Process Technique by Summing the Topographical Height Image and the Deflection Image with a Weight Function at Different Scanning Speeds

المصدر: مجلة البيان العلمية
الناشر: جامعة سرت - نقابة أعضاء هيئة التدريس
المؤلف الرئيسي: Ahtaiba, Ahmed Mohamed A. (Author)
المجلد/العدد: ع11
محكمة: نعم
الدولة: ليبيا
التاريخ الميلادي: 2022
الشهر: يناير
الصفحات: 167 - 174
رقم MD: 1264184
نوع المحتوى: بحوث ومقالات
اللغة: الإنجليزية
قواعد المعلومات: HumanIndex
مواضيع:
الصورة الطبوغرافية | التقنيات الذرية | الحزم الضوئية | المسح الضوئي
كلمات المؤلف المفتاحية:
AFM | Height Image | Scanning Speed | Deflection Image | Image Restoration
رابط المحتوى:
PDF (صورة)     
صورة الغلاف QR قانون
حفظ في:
المستخلص: يتضمن مبدأ مجهر القوة الذرية (جهاز يستخدم في مجال تقنية النانو) مسح جسم ما باستخدام طرف مجس مركب على الطرف الحر من ناتئ ميكانيكي دقيق. أثناء فحص العينة أفقيا، ينحرف ناتئ. يمكن استشعار انحراف الكابول من خلال عدة طرق. على سبيل المثال، انحراف الحزمة الضوئية حيث يتم استخدام هذه الطريقة غالبا بسبب بساطتها. أثناء عملية المسح لمرحلة العينة، تتم مقارنة الانحراف المكتشف مع انحراف نقطة التحديد. بعد ذلك، يتم تقليل إشارة الخطأ التي تمثل الفرق بين انحراف النقطة المحددة والمكتشفة عن طريق تحريك مرحلة العينة في الاتجاه Z. عند قيمة نقطة محددة، يمكن لعملية التغذية الراجعة المغلقة هذه أن تحافظ على انحراف ناتئ وبالتالي قوة التفاعل بين الطرف والعينة. يتم تتبع سطح العينة تقريبا بواسطة الحركة الناتجة ثلاثية الأبعاد لمرحلة العينة. لذلك، يمكن عادة تشكيل الصورة الطبوغرافية من الإشارات الكهربائية التي تستخدم لدفع ماسحة مرحلة العينة في الاتجاه Z-. في هذه الورقة، يتم إنشاء الصورة الطبوغرافية باستخدام القيم التي تم الحصول عليها عن طريق جمع صورة الارتفاع المستخدمة لقيادة الماسح الضوئي Z- وصورة الانحراف بدالة وزن قريبة من 3. وقد تم تحديد القيمة تجريبيا باستخدام المحاولة والخطأ. تعطي هذه الطريقة صورة طبوغرافية أكثر دقة.

The principle of the Atomic Force Microscope involves scanning an object using a probing tip that is mounted on the free end of a micro mechanical cantilever. While the sample is scanned horizontally the cantilever deflects. The deflection of the cantilever can be sensed among several methods. For instance, optical beam deflection where this method is often used because of it’s simplicity. While the scanning process of the sample stage, the detected deflection is compared with the set point deflection. Then, the error signal which is the difference between the detected and set point deflection is minimized by moving the sample stage in the Z – direction. At a set point value this closed –loop feedback operation can maintain the cantilever deflection and hence the tip – sample interaction force. The sample surface is approximately traced by the resulting 3D movement of the sample stage. Therefore, usually the topographic image can be formed from the electrical signals which are used to drive the sample stage scanner in the Z- direction. In this paper, the AFM topographic image is constructed using values obtained by summing the height image that is used for driving the Z- scanner and the deflection image with a weight function that is close to 3. The value of has been determined experimentally using trail and error. This method gives more faithful topographic image.

عناصر مشابهة


© 2024 المنظومة. جميع الحقوق محفوظة.