Caractérisation par Ellipsométrie Spectroscopique (Se) des Films Minces Amorphes de SiOxNy: H
| المؤلف الرئيسي: | Moulai, Hadjer (Author) |
|---|---|
| مؤلفين آخرين: | Ouagguini, Maroua (Co-Author) , Boulesbaa, Mohammed (Advisor) |
| التاريخ الميلادي: |
2017
|
| موقع: | ورقلة |
| الصفحات: | 1 - 56 |
| رقم MD: | 1296200 |
| نوع المحتوى: | رسائل جامعية |
| اللغة: | الفرنسية |
| الدرجة العلمية: | رسالة ماجستير |
| الجامعة: | جامعة قاصدي مرباح - ورقلة |
| الكلية: | كلية التكنولوجيات الحديثة للمعلومات والاتصال |
| الدولة: | الجزائر |
| قواعد المعلومات: | Dissertations |
| مواضيع: | |
| رابط المحتوى: |
عناصر مشابهة
-
Réalisation et Caractérisation des Couches Minces à Base de Tio2 Sensibilisées par un Pigment Naturel
بواسطة: Derdakh, Chemse Eddine منشور: (2019) -
Caractérisation Spectroscopique des Couches Minces D’oxyde de Nikel "Nio" Elaborées par Spray
بواسطة: Barir, Rafia منشور: (2018) -
Étude et Simulation de la Propagation des Ondes Électromagnétiques dans les Guides à Cristaux Photoniques
بواسطة: Halassa, Oualid منشور: (2018) -
Optical Properties of Amorphous a-Si:C:H Thin Films and Photo--Induced Structural Changes
بواسطة: Al Falahie, Ibrahim Jassim Abd Alleh منشور: (1992) -
Déposition de Couches Minces par Pulvérisation Cathodique et Mesure par Éllipsométrie
بواسطة: Guemmoula, Samiha منشور: (2017)
