العنوان بلغة أخرى: |
تأثير التشويب بالألمنيوم على بعض الخواص الفيزيائية لأغشية أوكسيد الزنك الرقيقة المحضرة بطريقة الترسيب الكيميائي الحراري |
---|---|
المصدر: | مجلة كلية التربية الأساسية |
الناشر: | الجامعة المستنصرية - كلية التربية الأساسية |
المؤلف الرئيسي: | حمود، همسة عبدالكريم (مؤلف) |
المؤلف الرئيسي (الإنجليزية): | Hmoud, Hamsa Abdul Kareem |
المجلد/العدد: | ع123 |
محكمة: | نعم |
الدولة: |
العراق |
التاريخ الميلادي: |
2024
|
الشهر: | شباط |
الصفحات: | 1 - 13 |
ISSN: |
8536-2706 |
رقم MD: | 1497822 |
نوع المحتوى: | بحوث ومقالات |
اللغة: | الإنجليزية |
قواعد المعلومات: | EduSearch |
مواضيع: | |
كلمات المؤلف المفتاحية: |
الترسيب الكيميائي الحراري | أغشية ZnO: Al | الخصائص التركيبية والبصرية | CSP | ZnO | Al Thin Films | Structural and Optical Properties
|
رابط المحتوى: |
الناشر لهذه المادة لم يسمح بإتاحتها. |
LEADER | 02968nam a22002297a 4500 | ||
---|---|---|---|
001 | 2241706 | ||
041 | |a eng | ||
044 | |b العراق | ||
100 | |9 679226 |a حمود، همسة عبدالكريم |e مؤلف |g Hmoud, Hamsa Abdul Kareem | ||
245 | |a The Effect of Aluminum Dopant on some Physical Properties of Zinc Oxide Thin Films Via Chemical Spray Pyrolysis | ||
246 | |a تأثير التشويب بالألمنيوم على بعض الخواص الفيزيائية لأغشية أوكسيد الزنك الرقيقة المحضرة بطريقة الترسيب الكيميائي الحراري | ||
260 | |b الجامعة المستنصرية - كلية التربية الأساسية |c 2024 |g شباط | ||
300 | |a 1 - 13 | ||
336 | |a بحوث ومقالات |b Article | ||
520 | |a تم حضرة أوكسيد الخارصين باستخدام طريقة التحلل الكيميائي الحراري وبتراكيز مختلف من شائبة الألمنيوم (0، 2، 4)%. كشفت أنماط حيود الأشعة السينية بان كافة الأغشية المحضرة كانت من النوع متعدد التبلور سداسي، متراض التركيب، تتراوح قيم الحجم الحبيبي من 13.30 نانومتر إلى 14.34 نانومتر مع زيادة تركيز الالمنيوم، أوضحت صور مجهر القوى الذرية بان الأغشية كانت منتظمة، خالية من التشققات ولها معدل حجم الجسميات في مدى (84.27 -72.18) نانومتر. وجد بأن أطياف النفاذية لها معدل بحدود 85%. انحرفت قييم فجوة الطاقة باتجاه الطاقات الواطئة بزيادة شائبة الالمنيوم. |b Zinc oxide has been synthesized by using Chemical spray pyrolysis (CSP) method with different Al concentration (0, 2 and 4) at%. XRD styles reveal that these films are polycrystalline hexagonal wurtzite structure, crystallite size was varied from 13.30 nm to 14.34 nm as Aluminum concentration increase. The AFM images displays uniform, crack free and average particle size was in the range (84.27-72.18) nm. Transmittance spectra have an average about 85%. The bandgap is moved to lower energy as Al doping increase. | ||
653 | |a الخواص الفيزيائية |a أوكسيد الزنك |a التحليل الكيميائي الحراري |a الأشعة السينية | ||
692 | |a الترسيب الكيميائي الحراري |a أغشية ZnO: Al |a الخصائص التركيبية والبصرية |b CSP |b ZnO |b Al Thin Films |b Structural and Optical Properties | ||
773 | |4 التربية والتعليم |6 Education & Educational Research |c 061 |e Journal of the Faculty of Basic Education |f Maǧallaẗ kulliyyaẗ al-muʻallimīn |l 123 |m ع123 |o 1156 |s مجلة كلية التربية الأساسية |v 000 |x 8536-2706 | ||
856 | |u 1156-000-123-061.pdf | ||
930 | |d n |p y |q n | ||
995 | |a EduSearch | ||
999 | |c 1497822 |d 1497822 |