ارسل ملاحظاتك

ارسل ملاحظاتك لنا







The Effect of Aluminum Dopant on some Physical Properties of Zinc Oxide Thin Films Via Chemical Spray Pyrolysis

العنوان بلغة أخرى: تأثير التشويب بالألمنيوم على بعض الخواص الفيزيائية لأغشية أوكسيد الزنك الرقيقة المحضرة بطريقة الترسيب الكيميائي الحراري
المصدر: مجلة كلية التربية الأساسية
الناشر: الجامعة المستنصرية - كلية التربية الأساسية
المؤلف الرئيسي: حمود، همسة عبدالكريم (مؤلف)
المؤلف الرئيسي (الإنجليزية): Hmoud, Hamsa Abdul Kareem
المجلد/العدد: ع123
محكمة: نعم
الدولة: العراق
التاريخ الميلادي: 2024
الشهر: شباط
الصفحات: 1 - 13
ISSN: 8536-2706
رقم MD: 1497822
نوع المحتوى: بحوث ومقالات
اللغة: الإنجليزية
قواعد المعلومات: EduSearch
مواضيع:
كلمات المؤلف المفتاحية:
الترسيب الكيميائي الحراري | أغشية ZnO: Al | الخصائص التركيبية والبصرية | CSP | ZnO | Al Thin Films | Structural and Optical Properties
رابط المحتوى:
صورة الغلاف QR قانون
حفظ في:
LEADER 02968nam a22002297a 4500
001 2241706
041 |a eng 
044 |b العراق 
100 |9 679226  |a حمود، همسة عبدالكريم  |e مؤلف  |g Hmoud, Hamsa Abdul Kareem 
245 |a The Effect of Aluminum Dopant on some Physical Properties of Zinc Oxide Thin Films Via Chemical Spray Pyrolysis 
246 |a تأثير التشويب بالألمنيوم على بعض الخواص الفيزيائية لأغشية أوكسيد الزنك الرقيقة المحضرة بطريقة الترسيب الكيميائي الحراري 
260 |b الجامعة المستنصرية - كلية التربية الأساسية  |c 2024  |g شباط 
300 |a 1 - 13 
336 |a بحوث ومقالات  |b Article 
520 |a تم حضرة أوكسيد الخارصين باستخدام طريقة التحلل الكيميائي الحراري وبتراكيز مختلف من شائبة الألمنيوم (0، 2، 4)%. كشفت أنماط حيود الأشعة السينية بان كافة الأغشية المحضرة كانت من النوع متعدد التبلور سداسي، متراض التركيب، تتراوح قيم الحجم الحبيبي من 13.30 نانومتر إلى 14.34 نانومتر مع زيادة تركيز الالمنيوم، أوضحت صور مجهر القوى الذرية بان الأغشية كانت منتظمة، خالية من التشققات ولها معدل حجم الجسميات في مدى (84.27 -72.18) نانومتر. وجد بأن أطياف النفاذية لها معدل بحدود 85%. انحرفت قييم فجوة الطاقة باتجاه الطاقات الواطئة بزيادة شائبة الالمنيوم.  |b Zinc oxide has been synthesized by using Chemical spray pyrolysis (CSP) method with different Al concentration (0, 2 and 4) at%. XRD styles reveal that these films are polycrystalline hexagonal wurtzite structure, crystallite size was varied from 13.30 nm to 14.34 nm as Aluminum concentration increase. The AFM images displays uniform, crack free and average particle size was in the range (84.27-72.18) nm. Transmittance spectra have an average about 85%. The bandgap is moved to lower energy as Al doping increase. 
653 |a الخواص الفيزيائية  |a أوكسيد الزنك  |a التحليل الكيميائي الحراري  |a الأشعة السينية 
692 |a الترسيب الكيميائي الحراري  |a أغشية ZnO: Al   |a الخصائص التركيبية والبصرية  |b CSP  |b ZnO  |b Al Thin Films  |b Structural and Optical Properties 
773 |4 التربية والتعليم  |6 Education & Educational Research  |c 061  |e Journal of the Faculty of Basic Education  |f Maǧallaẗ kulliyyaẗ al-muʻallimīn  |l 123  |m ع123  |o 1156  |s مجلة كلية التربية الأساسية  |v 000  |x 8536-2706 
856 |u 1156-000-123-061.pdf 
930 |d n  |p y  |q n 
995 |a EduSearch 
999 |c 1497822  |d 1497822 

عناصر مشابهة