ارسل ملاحظاتك

ارسل ملاحظاتك لنا









Silicon Wafer Defects Classification Using Deep Learning Techniques

المؤلف الرئيسي: Younis, Hussein Salah Hussein (Author)
مؤلفين آخرين: Rattroot, Amjad (Advisor)
محكمة: نعم
التاريخ الميلادي: 2024
موقع: جنين
الصفحات: 1 - 113
رقم MD: 1559259
نوع المحتوى: رسائل جامعية
اللغة: الإنجليزية
الدرجة العلمية: رسالة ماجستير
الجامعة: الجامعة العربية الأمريكية - جنين
الكلية: كلية الدراسات العليا
الدولة: فلسطين
قواعد المعلومات: Dissertations
مواضيع:
رابط المحتوى:
صورة الغلاف QR قانون
حفظ في:

عناصر مشابهة