ارسل ملاحظاتك

ارسل ملاحظاتك لنا







ٌReducing Test Power for Embedded Memories

المؤلف الرئيسي: Awad, Ahmed (Author)
مؤلفين آخرين: Abu Issa, Abdellatif (Advisor)
التاريخ الميلادي: 2011
موقع: بيرزيت
الصفحات: 1 - 71
رقم MD: 553567
نوع المحتوى: رسائل جامعية
اللغة: الإنجليزية
الدرجة العلمية: رسالة ماجستير
الجامعة: جامعة بيرزيت
الكلية: كلية تكنولوجيا المعلومات
الدولة: فلسطين
قواعد المعلومات: Dissertations
مواضيع:
رابط المحتوى:
صورة الغلاف QR قانون

عدد مرات التحميل

8

حفظ في:

عناصر مشابهة