ارسل ملاحظاتك

ارسل ملاحظاتك لنا







Measurement of Relative Intensities of L-Subshell X-Ray Lines for some Elements by 22.581 KeV Photons

العنوان بلغة أخرى: قياس الشدة النسبية للأشعة السينية الصادرة من مدارات L الفرعية لبعض العناصر بفوتونات ذات طاقة 22.581 كيلو الكترون فولت
المؤلف الرئيسي: Ababneh, Amer (auth)
مؤلفين آخرين: Hallak, Awni Baker (Advisor)
التاريخ الميلادي: 2003
موقع: الزرقاء
الصفحات: 1 - 67
رقم MD: 585880
نوع المحتوى: رسائل جامعية
اللغة: الإنجليزية
الدرجة العلمية: رسالة ماجستير
الجامعة: الجامعة الهاشمية
الكلية: عمادة البحث العلمي والدراسات العليا
الدولة: الاردن
قواعد المعلومات: Dissertations
مواضيع:
رابط المحتوى:
صورة الغلاف QR قانون

عدد مرات التحميل

5

حفظ في: