ارسل ملاحظاتك

ارسل ملاحظاتك لنا







Ellipsometry of Ge/Al Multilayer thin Film Systems

العنوان بلغة أخرى: مطيافية القطع الناقص لأنظمة متعددة الطبقات لأغشية رقيقة من الجرمانيوم - الألمنيوم
المؤلف الرئيسي: Al Mahasneh, Abd Allah Ahmed (Author)
مؤلفين آخرين: Shahin, Issa (Advisor), Al Attar, Hameed (Advisor)
التاريخ الميلادي: 2001
موقع: عمان
الصفحات: 1 - 115
رقم MD: 610087
نوع المحتوى: رسائل جامعية
اللغة: الإنجليزية
الدرجة العلمية: رسالة ماجستير
الجامعة: الجامعة الاردنية
الكلية: كلية الدراسات العليا
الدولة: الاردن
قواعد المعلومات: Dissertations
مواضيع:
رابط المحتوى:
صورة الغلاف QR قانون
حفظ في:

عناصر مشابهة