ارسل ملاحظاتك

ارسل ملاحظاتك لنا







الرئيسية > Focusing Of Charged Particles...>الوصف

Focusing Of Charged Particles Beam Passing Through A System Of Two Identical Magnets

المصدر: مجلة كلية التربية
الناشر: الجامعة المستنصرية - كلية التربية
المؤلف الرئيسي: Hashim, Intesar H. (Author)
مؤلفين آخرين: Saleh, Sarmad H. (Co - Author)
المجلد/العدد: ع3
محكمة: نعم
الدولة: العراق
التاريخ الميلادي: 2013
الصفحات: 29 - 52
ISSN: 1812-0380
رقم MD: 636660
نوع المحتوى: بحوث ومقالات
قواعد المعلومات: EduSearch
مواضيع:
علوم الفيزياء
رابط المحتوى:

الناشر لهذه المادة لم يسمح بإتاحتها.
صورة الغلاف QR قانون
حفظ في:
المستخلص: استعملنا في هذا العمل مغناطيسين اثنين ووضعناهما أمام مسار الجسيمات المشحونة للحصول على أفضل تركيز للجسيمات المشحونة وفي كلا المحورين الأفقي والعمودي. وقمنا بتتبع مسار الجسيمات المشحونة إبتداءا من منطقة استخراج الجسيمات من المصدر الأيوني حتى تصل تلك الجسيمات إلى الهدف٠ إن عملية التتبع لمسار الجسيمات المشحونة تتم باستخدام مصفوفات في كل منطقة تمر فيها الجسيمات المشحونة ابتداءا من منطقة الانتزاع وصولا إلى الهدف وذلك بوصف حزم الجسيمات المشحونة بشكل بيضوي في كلا المحورين الأفقي والعمودي. وان حركة حزم الجسيمات المشحونة في تلك المحاور تكون مستقلة إحداهما عن الأخرى.

In this work, we use two magnets placed in front of the path of charged particles to obtain the best focusing of charged particles in both the horizontal and vertical planes. We trace the path of charged particles from the extraction region at the ion source, until reach to the target were traced. The process of tracing the path of charged particles is performed using matrices in each region in which passing the charged particles, starting from the extraction region reaching to the target by describing the charged particle beams as phase space ellipse in both the horizontal and vertical planes. The movement of the charged particle beams in those planes are independent from one another.
ISSN: 1812-0380

عناصر مشابهة


© 2024 المنظومة. جميع الحقوق محفوظة.