ارسل ملاحظاتك

ارسل ملاحظاتك لنا







تأثير السمك على الخصائص التركيبية والبصرية لأغشية Bi2O3 الرقيقة

العنوان بلغة أخرى: Effect of Thickness on the Structural and Optical Properties of (Bi2O3) Thin Films
المصدر: مجلة كلية التربية
الناشر: الجامعة المستنصرية - كلية التربية
المؤلف الرئيسي: الميالي، بشرى كاظم حسون (مؤلف)
مؤلفين آخرين: عبدالله، نصر عيسى نجم (م. مشارك)
المجلد/العدد: ع5
محكمة: نعم
الدولة: العراق
التاريخ الميلادي: 2016
الصفحات: 75 - 88
ISSN: 1812-0380
رقم MD: 826816
نوع المحتوى: بحوث ومقالات
اللغة: العربية
قواعد المعلومات: EduSearch
مواضيع:
كلمات المؤلف المفتاحية:
الخصائص التركيبية والبصرية | اغشية اوكسيد البزموث | التبخر الحراري في الفراغ | Structural and Optical Properties | Bismuth Oxide Films | Thermal Evaporation
رابط المحتوى:
صورة الغلاف QR قانون
حفظ في:
المستخلص: يتناول هذا البحث دراسة تأثير تغير السمك (250,350 and 450+20 nm) على الخصائص التركيبية والبصرية لأغشية أوكسيد البزموث الرقيقة (Bi2O3) والمحضرة على قواعد زجاجية بتقنية التبخر الحراري في الفراغ، استعملت حيود الأشعة السينية (XRD) لدراسة الخصائص التركيبية وبينت النتائج أن لجميع الأغشية المحضرة تركيب متعدد التبلور وبطور رباعي والاتجاه السائد [201] وقد بينت النتائج البصرية أن لهذه الأغشية معامل امتصاص عالي (a>10 4 cm-1) وفجوة طاقة بصرية مباشرة تزداد قيمتها بزيادة السمك وكذلك أظهرت القياسات البصرية أن قيم كل من (معامل الامتصاص ، معامل الانكسار ، معامل الخمود وثابت العزل بجزئيه الحقيقي والخيالي والتوصية البصرية خلال مدى ض الأطوال الموجبة (300-1100 nm) تتغير مع سمك الغشاء.

In this research , the influence of different thickness (250,350 and 450 ±20 nm) on the structural and optical properties have been investigated on he thin films of (Bi2O3) which deposited on glass substrates using thermal evaporation technique under vacuum , ( XRD) is used to characterize the structural properties, the results indicate that all films prepared have polycrystalline structure with preferentially oriented in the [ 201] with tetragonal structure, The optical analyses shows that these films have high absorption coefficient ( α > 104 cm-1 ) and direct energy gap which increase with the increase of film thickness , Also optical measurements shows that , the values of absorption coefficient , refractive index , extinction coefficient , the dielectric constants with both parts real and imaginary Optical Conductivity are change with on film thickness for the wavelength in the range ( 300 – 1100 nm ) .

ISSN: 1812-0380