العنوان بلغة أخرى: |
تصنيع خلية شمسية للأغشية الرقيقة p-Si / ZnO بواسطة CVD عند درجات حرارة أرضية مختلفة |
---|---|
المصدر: | مجلة أبحاث كلية التربية الأساسية |
الناشر: | جامعة الموصل - كلية التربية الأساسية |
المؤلف الرئيسي: | Najim, Suha Abdullah (Author) |
المجلد/العدد: | مج15, ع4 |
محكمة: | نعم |
الدولة: |
العراق |
التاريخ الميلادي: |
2019
|
الصفحات: | 3167 - 3178 |
ISSN: |
1992-7452 |
رقم MD: | 1067958 |
نوع المحتوى: | بحوث ومقالات |
اللغة: | الإنجليزية |
قواعد المعلومات: | EduSearch |
مواضيع: | |
كلمات المؤلف المفتاحية: |
أوكسيد الخارصين | الطبقة الماصة p-Si | وصلة P-N | Zinc Oxide | p-Si Absorber Layer | P-N Junction
|
رابط المحتوى: |
الناشر لهذه المادة لم يسمح بإتاحتها. |
المستخلص: |
أوكسيد الخارصين المرشح البارز الذي يستخدم كطبقة نافذة في قاعدة السيلكون للخلية الشمسية. في هذه الدراسة تم تحضير الخلية الشمسية المصنعة عند درجات حرارة الأرضية المختلفة (400. 450. 500˚C) ل Si/ZnO بطريقة الترسيب البخاري الكيميائي لإيجاد معاملات التحويل العالية. كذلك وجد أن Voc وŋ Isc, تزداد بزيادة درجة حرارة الأرضية عند .500˚Cحسبت أفضل قيمة كفاءة %9.47 عند درجة حرارة أرضية ˚C 500. قيست الخصائص الكهربائية العملية أيضا ρ, σ وΦb بزيادة درجة حرارة أرضية SI لغاية C˚500، وكانت المقاومية الكهربائية للخلية الشمسية Si/ZnO) 0.231 (ohm.m عند˚C 400 وتزداد بزيادة درجة حرارة الأرضية التي تؤدي إلى نقصان التوصيلية. Zinc Oxide is a prominent candidate to be used a window layer in Si based solar cell. In this study, fabricated solar cell parameters with different substrate temperatures (400,450,500 ˚C) of Si/ZnO have been prepared by chemical vapor deposition method to find out the higher conversion. Moreover, it is found that Isc, Voc and η are increased for the substrate temperature increase at 500˚C. The best efficiency value calculated was 9.47% at substrate temperature 500˚C. Experimentally the electrical properties measured also ρ, σ and Φb as Si substrate temperature increased until 500˚C, the electrical resistivity of Si/ZnO solar cell was (0.231 ohm.m) at 400 ˚C and it is increased as Si substrate temp. increase, which leads to the decrease of conductivity. |
---|---|
ISSN: |
1992-7452 |