ارسل ملاحظاتك

ارسل ملاحظاتك لنا







تحليل عينة صخرية من منطقة ورقلة بالاعتماد على الطرق الطيفية

المؤلف الرئيسي: بوشعالة، عفاف (مؤلف)
مؤلفين آخرين: محمدي، لزهر (مشرف), ابن مبروك، لزهر (مشرف)
التاريخ الميلادي: 2019
موقع: ورقلة
الصفحات: 1 - 55
رقم MD: 1161335
نوع المحتوى: رسائل جامعية
اللغة: العربية
الدرجة العلمية: رسالة ماجستير
الجامعة: جامعة قاصدي مرباح - ورقلة
الكلية: كلية الرياضيات وعلوم المادة
الدولة: الجزائر
قواعد المعلومات: Dissertations
مواضيع:
رابط المحتوى:
صورة الغلاف QR قانون

عدد مرات التحميل

9

حفظ في:
المستخلص: قمنا في هذا العمل بدراسة عينة صخرية من منطقة ورقلة بالإحداثيات الجغرافية (y=31.80, x=5.54)، وتم تحديد التركيب الكيميائي لهذه العينة الصخرية باستعمال طرق التحليل الطيفي: انعراج الأشعة السينية (XRD)وفلورة الأشعة السينية (XRF) ومطيافية امتصاص الأشعة تحت الحمراء (FTIR). من خلال مخطط انعراج الأشعة السينية وطيف امتصاص الأشعة تحت الحمراء تبين أن هذه العينة تتكون أساسا من الكوارتز α- بتركيز 69% كما تحتوي على مركبات أخرى بتراكيز ضعيفة نسبيا. وأظهرت تقنية (XRF) تراكيز العناصر الكيميائية المكونة للعينية بشكل تركيز ذري ولقد تبين أنها تحوي 24.07% من المغنسيوم و21.83% من السيلكون بالإضافة إلى الانديوم 19.67% والروديوم بــ 14.40% بينما العناصر الأخرى ظهرت بنسب ضعيفة، وبالتالي يمكن الاستغلال والاستفادة من مختلف المواد التي تحويها في العديد من التطبيقات التكنولوجية الجديدة.