المؤلف الرئيسي: | خنفر، مباركة (مؤلف) |
---|---|
مؤلفين آخرين: | بالعكروم، كريمة (مشرف) , ابن مبروك، لزهر (مشرف) |
التاريخ الميلادي: |
2019
|
موقع: | ورقلة |
الصفحات: | 1 - 34 |
رقم MD: | 1168731 |
نوع المحتوى: | رسائل جامعية |
اللغة: | العربية |
الدرجة العلمية: | رسالة ماجستير |
الجامعة: | جامعة قاصدي مرباح - ورقلة |
الكلية: | كلية الرياضيات وعلوم المادة |
الدولة: | الجزائر |
قواعد المعلومات: | Dissertations |
مواضيع: | |
رابط المحتوى: |
المستخلص: |
في هذا العمل، درسنا التركيب الكيميائي لعينة من الصخور الواقعة بين منطقة ورقلة وحاسي مسعود في الجزائر بالموقع الجغرافي (05.5395، 31.8025)، وقد تم تحليل العينات المحضرة بواسطة حيود الأشعة السينية، بواسطة التحليل الطيفي بالأشعة تحت الحمراء للحصول على طيف الامتصاص (FTIR) وأيضا بواسطة تقنية الفلورة بالأشعة السينية (XRF) حيث أعطتنا هذه الأخيرة النسبة المئوية للعناصر الكيميائية الموجودة بالعينة، وتبين النتائج أن النسبة المئوية الأعلى هي السيليكون (21.82%)، علما أن تأكسد السيليكون يعطي الكوارتز، وتم تأكيد وجود الكوارتز بشكل جيد إما عن طريق تقنية XRD، والتي أعطت التركيب البلوري للكوارتز أو بواسطه تقنية FTIR التي أظهرت مجموعة الوظيفية، النتائج التي تم التوصل إليها سمحت لنا أيضا بتصنيف عينا ضمن الصخور الرسوبية. |
---|