ارسل ملاحظاتك

ارسل ملاحظاتك لنا







دراسة عينة من صخور منطقة ورقلة بواسطة التقنيات الطيفية

المؤلف الرئيسي: خنفر، مباركة (مؤلف)
مؤلفين آخرين: بالعكروم، كريمة (مشرف) , ابن مبروك، لزهر (مشرف)
التاريخ الميلادي: 2019
موقع: ورقلة
الصفحات: 1 - 34
رقم MD: 1168731
نوع المحتوى: رسائل جامعية
اللغة: العربية
الدرجة العلمية: رسالة ماجستير
الجامعة: جامعة قاصدي مرباح - ورقلة
الكلية: كلية الرياضيات وعلوم المادة
الدولة: الجزائر
قواعد المعلومات: Dissertations
مواضيع:
رابط المحتوى:
صورة الغلاف QR قانون

عدد مرات التحميل

5

حفظ في:
المستخلص: في هذا العمل، درسنا التركيب الكيميائي لعينة من الصخور الواقعة بين منطقة ورقلة وحاسي مسعود في الجزائر بالموقع الجغرافي (05.5395، 31.8025)، وقد تم تحليل العينات المحضرة بواسطة حيود الأشعة السينية، بواسطة التحليل الطيفي بالأشعة تحت الحمراء للحصول على طيف الامتصاص (FTIR) وأيضا بواسطة تقنية الفلورة بالأشعة السينية (XRF) حيث أعطتنا هذه الأخيرة النسبة المئوية للعناصر الكيميائية الموجودة بالعينة، وتبين النتائج أن النسبة المئوية الأعلى هي السيليكون (21.82%)، علما أن تأكسد السيليكون يعطي الكوارتز، وتم تأكيد وجود الكوارتز بشكل جيد إما عن طريق تقنية XRD، والتي أعطت التركيب البلوري للكوارتز أو بواسطه تقنية FTIR التي أظهرت مجموعة الوظيفية، النتائج التي تم التوصل إليها سمحت لنا أيضا بتصنيف عينا ضمن الصخور الرسوبية.