العنوان بلغة أخرى: |
نظرة عامة في منظور مادة السيليكون المسامي: مراجعة مقالة |
---|---|
المصدر: | مجلة التربية والعلم |
الناشر: | جامعة الموصل - كلية التربية |
المؤلف الرئيسي: | علي، غزوان غازي (مؤلف) |
مؤلفين آخرين: | كرومي، إيفان بهنام (م. مشارك) , يونس، مروان حفيظ (م. مشارك) |
المجلد/العدد: | مج30, ع2 |
محكمة: | نعم |
الدولة: |
العراق |
التاريخ الميلادي: |
2021
|
الصفحات: | 42 - 52 |
DOI: |
10.33899/edusj.2020.128341.1111 |
ISSN: |
1812-125X |
رقم MD: | 1202611 |
نوع المحتوى: | بحوث ومقالات |
اللغة: | الإنجليزية |
قواعد المعلومات: | EduSearch |
مواضيع: | |
كلمات المؤلف المفتاحية: |
السيليكون المسامي | طرق التصنيع | الخصائص الضوئية | الخصائص الكهربائية | Porous Silicon | Fabrication Methods | Electrical Properties | Optical Properties
|
رابط المحتوى: |
الناشر لهذه المادة لم يسمح بإتاحتها. |
المستخلص: |
أصبح السيليكون المسامي في السنوات الأخيرة الموضوع الرئيسي في عدد كبير من الكتب ومقالات المراجعة. أظهر السليكون المسامي تنوعاً كبيراً وأهمية فريدة من نوعها لمجموعة كبيرة من التطبيقات الإلكتروضوئية بفضل المساحة السطحية الكبيرة والاستضاءة الواسعة عند درجة حرارة الغرفة. في هذه المقالة سوف نقوم بعرض شامل لتقنيات التصنيع والتحسينات التجريبية التي تم إجراؤها على السليكون المسامي Psi ونعرض صورة كاملة لدراسة لتوصيف هذه المادة. سوف نقوم أيضا بتسليط الضوء على خصائصه المهمة، والتي تشمل الخصائص الكيميائية، الخصائص التركيبية بالإضافة إلى الخصائص السطحية. علاوة على ذلك، سنقوم بعرض التقنيات التي تم استخدامها في فحص واختبار عينات السيليكون المسامي والتي تتضمن التحليل الطيفي للأشعة تحت الحمراء (تحويلات فورير) وقياسات حيود الأشعة السينية (X-ray) وصور مجهر القوة الذرية (AFM) ومجهر الإلكتروني الماسح (SEM). أيضا في هذه المقالة تم التطرق إلى تأثير كثافة التيار وزمن التنميش. وعلاوة عما سبق يمكن أن نستنتج بأن السيليكون المسامي خضع لتحسينات كبيرة في كل من عملية التصنيع والتوصيف مما يجعله مادة حديثة وجذابة. Recently, the properties and applications of porous has become the main subject of a vast numbers of books and review articles. Porous silicon has demonstrated significant versatility and promise for a wide range of optoelectronic applications due to its large surface area and intense photoluminescence at room temperature. In this review, we describe the fabrication techniques and experimental improvements made towards porous silicon (PSi) and we provide a full picture of realization and characterization of this material. We also highlight its important chemical, structure and surface properties. Additionally, we will introduced the techniques that have been used to characterize porouse silicon, including Fourier transform infrared spectroscopy, X-ray diffraction measurements, atomic force microscope images (AFM) and a scanning probe microscope (SEM). Moreover, the effect of the current density and etching time are also documented in this review. In summary, porous silicon has undergone vast improvement in both fabrication and characterization methods, which makes it an attractive modern material. |
---|---|
ISSN: |
1812-125X |