ارسل ملاحظاتك

ارسل ملاحظاتك لنا







تطبيق تدقيق ريتفيلد "Rietveld" على مخطط انعراج الأشعة السينية لمسحوق "بآثار السيليكا" عند زوايا صغيرة

المؤلف الرئيسي: ديدة، شرف الدين (مؤلف)
مؤلفين آخرين: بن بلقاسم، خلف الله (مشرف) , بن طويلة، عمر (مشرف)
التاريخ الميلادي: 2021
موقع: ورقلة
الصفحات: 1 - 41
رقم MD: 1425965
نوع المحتوى: رسائل جامعية
اللغة: العربية
الدرجة العلمية: رسالة ماجستير
الجامعة: جامعة قاصدي مرباح - ورقلة
الكلية: كلية الرياضيات وعلوم المادة
الدولة: الجزائر
قواعد المعلومات: Dissertations
مواضيع:
رابط المحتوى:
صورة الغلاف QR قانون
حفظ في: