تطبيق تدقيق ريتفيلد "Rietveld" على مخطط انعراج الأشعة السينية لمسحوق "بآثار السيليكا" عند زوايا صغيرة

المؤلف الرئيسي:	ديدة، شرف الدين (مؤلف)
مؤلفين آخرين:	بن بلقاسم، خلف الله (مشرف) , بن طويلة، عمر (مشرف)
التاريخ الميلادي:	2021
موقع:	ورقلة
الصفحات:	1 - 41
رقم MD:	1425965
نوع المحتوى:	رسائل جامعية
اللغة:	العربية
الدرجة العلمية:	رسالة ماجستير
الجامعة:	جامعة قاصدي مرباح - ورقلة
الكلية:	كلية الرياضيات وعلوم المادة
الدولة:	الجزائر
قواعد المعلومات:	Dissertations
مواضيع:	الفيزياء الإشعاعية \| الأشعة السينية \| المواد البلورية \| مسحوق السيليكا
رابط المحتوى:	صفحة العنوان المستخلص قائمة المحتويات 24 صفحة الأولى 1 الفصل 2 الفصل 3 الفصل الخاتمة المصادر والمراجع

LEADER	01485nam a22003017a 4500
001	1566746
041		\|a ara
100		\|9 754952 \|a ديدة، شرف الدين \|e مؤلف
245		\|a تطبيق تدقيق ريتفيلد "Rietveld" على مخطط انعراج الأشعة السينية لمسحوق "بآثار السيليكا" عند زوايا صغيرة
260		\|a ورقلة \|c 2021
300		\|a 1 - 41
336		\|a رسائل جامعية
502		\|b رسالة ماجستير \|c جامعة قاصدي مرباح - ورقلة \|f كلية الرياضيات وعلوم المادة \|g الجزائر \|o 0860
653		\|a الفيزياء الإشعاعية \|a الأشعة السينية \|a المواد البلورية \|a مسحوق السيليكا
700		\|a بن بلقاسم، خلف الله \|e مشرف \|9 506921
700		\|a بن طويلة، عمر \|e مشرف \|9 506881
856		\|u 9815-058-004-0860-T.pdf \|y صفحة العنوان
856		\|u 9815-058-004-0860-A.pdf \|y المستخلص
856		\|u 9815-058-004-0860-C.pdf \|y قائمة المحتويات
856		\|u 9815-058-004-0860-F.pdf \|y 24 صفحة الأولى
856		\|u 9815-058-004-0860-1.pdf \|y 1 الفصل
856		\|u 9815-058-004-0860-2.pdf \|y 2 الفصل
856		\|u 9815-058-004-0860-3.pdf \|y 3 الفصل
856		\|u 9815-058-004-0860-O.pdf \|y الخاتمة
856		\|u 9815-058-004-0860-R.pdf \|y المصادر والمراجع
930		\|d y
995		\|a Dissertations
999		\|c 1425965 \|d 1425965