ارسل ملاحظاتك

ارسل ملاحظاتك لنا









الرئيسية > Forming a Transistor Test Circ...>الوصف

Forming a Transistor Test Circuit by Using 555 Timer

المصدر: المجلة الليبية العالمية
الناشر: جامعة بنغازي - كلية التربية بالمرج
المؤلف الرئيسي: Maznouk, Noura N. (Author)
مؤلفين آخرين: Al-Maarati, Ghiath A. (Co-Author) , Yousef, Rafee M. (Co-Author)
المجلد/العدد: ع48
محكمة: نعم
الدولة: ليبيا
التاريخ الميلادي: 2020
الشهر: يوليو
الصفحات: 1 - 9
ISSN: 2518-5845
رقم MD: 1427129
نوع المحتوى: بحوث ومقالات
اللغة: الإنجليزية
قواعد المعلومات: EduSearch
مواضيع:
الدوائر الإلكترونية | الترانزستورات | التيار الكهربائي
كلمات المؤلف المفتاحية:
المؤقت 555 | عديم الاستقرار | الترانزستور | المضخم العملياتي | المقارن | ليدات ضوئية | The 555 Timer | AStable | Transistor | Operational Amplifier | Comparator | Optical LEDs
رابط المحتوى:
PDF (صورة)     
صورة الغلاف QR قانون

عدد مرات التحميل

2

حفظ في:
المستخلص: * لقد قمنا في هذا البحث بتشكيل دائرة لفحص الترانزستورات من النوعين npn و pnp وكشف الترانزستورات التي تعمل من العاطلة. * اعتمدنا في تشكيل هذه الدائرة على مكون أساسي وهو المؤقت 555، كما استخدمنا عدة قطع إلكترونية أخرى سوف نأتي على ذكرها لاحقا. * فحص العديد من الترانزستورات بواسطة الدارة السابقة.

* In this research we have formed a circuit to exam the transistors of the types npn and pnp and detect the transistors that work from the damage. * We used the formation of this circuit on the basic component is the 555 timer, and we used several other pieces of electronic will come to mention later. * We tested many transistors by the previous circuit.
ISSN: 2518-5845

عناصر مشابهة


© 2025 المنظومة. جميع الحقوق محفوظة.