ارسل ملاحظاتك

ارسل ملاحظاتك لنا







The Characterization of ITO/Glass, SiO2/Si Systems Using Spectroscopic Ellipsometry

المؤلف الرئيسي: Belouettar, Amina (Author)
مؤلفين آخرين: Boulesbaa, Mohammed (Advisor)
التاريخ الميلادي: 2022
موقع: ورقلة
الصفحات: 1 - 69
رقم MD: 1438045
نوع المحتوى: رسائل جامعية
اللغة: الإنجليزية
الدرجة العلمية: رسالة ماجستير
الجامعة: جامعة قاصدي مرباح - ورقلة
الكلية: كلية التكنولوجيات الحديثة للمعلومات والاتصال
الدولة: الجزائر
قواعد المعلومات: Dissertations
مواضيع:
رابط المحتوى:
صورة الغلاف QR قانون
حفظ في: