تم إضافة تقرير جديد 2024
ارسل ملاحظاتك

ارسل ملاحظاتك لنا









الرئيسية > An X-Ray Diffraction Study of...>الوصف

An X-Ray Diffraction Study of au Thin Film Microstructures by Scherrer Equation and Strain Size Plot Methods

العنوان بلغة أخرى: دراسة حيود الأشعة السينية للهياكل الدقيقة لأغشية الذهب الرقيقة بواسطة معادلة شيرورو نموذج مخطط حجم الإجهاد
المصدر: مجلة شمال إفريقيا للنشر العلمي
الناشر: الأكاديمية الأفريقية للدراسات المتقدمة
المؤلف الرئيسي: اخويطر، مريم (مؤلف)
المؤلف الرئيسي (الإنجليزية): Akhwater, Maryam
المجلد/العدد: مج2, ع4
محكمة: نعم
الدولة: ليبيا
التاريخ الميلادي: 2024
الشهر: ديسمبر
الصفحات: 33 - 40
ISSN: 2959-4820
رقم MD: 1525489
نوع المحتوى: بحوث ومقالات
اللغة: الإنجليزية
قواعد المعلومات: EduSearch, HumanIndex
مواضيع:
التحليل الإشعاعي | الأشعة السينية | البنية المجهرية | تكنولوجيا النانو
كلمات المؤلف المفتاحية:
أغشية الذهب الرقيقة | الحجم البلوري | حيود الأشعة السينية | طريقة شيرور المعدلة | مخطط حجم الإجهاد | Au Thin Films | Crystallite Size | X-Ray Diffraction | Modified Scherrer Method | Strain Size Plot
رابط المحتوى:
PDF (صورة)     
صورة الغلاف QR قانون
حفظ في:
المستخلص: تعد تقنية حيود الأشعة السينية أداة سهلة وقوية لفحص البنية البلورية للمواد الكبيرة البلورية النانوية، والتي تلعب دورا رئيسيا في مجموعة واسعة من التطبيقات المحتملة في هذا البحث، تم ترسيب أغشية الذهب الرقيقة بطريقة الرش بالترددات الراديوية على ركائز السيليكون ثم تم دراستها باستخدام تقنية حيود الأشعة السينية (XRD). أكدت أنماط حيود الأشعة السينية تبلور أغشية الذهب الرقيقة بهيكل (FCC). تم تطبيق تحليل اتساع القمة لتقدير خصائص البنية المجهرية، بما في ذلك أحجام البلورات والسلالات الشبكية، باستخدام معادلة شيرور (Debye Scherrer) القائمة على النماذج الآتية: الخط المستقيم الخطي، والخط المستقيم الخطي الذي يمر عبر الأصل، ومتوسط حجم البلورة. بالإضافة إلى ذلك، تم أيضا استخدام نموذج معادلة موشي- شيرور Monshi- Scherrer وطريقة مخطط حجم الإجهاد (SSP) لقد أظهرت النتائج التي تم الحصول عليها أن الحجم البلوري التقديري لأغشية الذهب الرقيقة بواسطة النماذج المقترحة كان متقاربا للغاية. تمت مقارنة معاملات البنية البلورية المجهرية التي تم تعيينها باستخدام الطرق المقترحة مع النتائج المنشورة سابقا لتقنيات المجهر الإلكتروني عالي الدقة (HR-TEM) ومجهر القوة الذرية (AFM) ومجهر المسح الإلكتروني (SEM). باستثناء نموذج الخط المستقيم الخطي لمعادلة شيرور، كانت جميع نتائج الحجم البلوري لأغشية الذهب الرقيقة في توافق جيد مع بيانات المجهر الإلكتروني عالي الدقة المنشورة مسبقا.

The X-ray diffraction technique is an easy and powerful tool for investigating the crystal structure of nanocrystalline bulk materials, which play a key role in a wide range of potential applications. In this paper, Au thin films were deposited by the radio frequency sputtering method onto Si substrates and then were characterized using the X-ray diffraction technique (XRD). The XRD patterns confirmed the crystallinity of Au thin films with FCC structure. The peak broadening analysis was applied to estimate the microstructural properties, including crystallite sizes and lattice strains, using Debye Scherrer equation-based methods, including linear straight-line, linear straight-line passing through the origin, and the average size of the crystal. In addition, the Monshi–Scherrer equation model and the size strain plot (SSP) method were also used. The obtained findings showed that the estimated crystalline size of the Au thin films by the proposed models was highly intercorrelated. The microstructural parameters evaluated from the suggested methods were compared with previously published HR-TEM, AFM, and SEM results. Apart from the linear straight-line model of the Scherrer equation, all results of the crystallite size for deposited thin films were accurate with significant agreement to previously published TEM data.
ISSN: 2959-4820

عناصر مشابهة


© 2025 المنظومة. جميع الحقوق محفوظة.