ارسل ملاحظاتك

ارسل ملاحظاتك لنا







An X-Ray Diffraction Study of au Thin Film Microstructures by Scherrer Equation and Strain Size Plot Methods

العنوان بلغة أخرى: دراسة حيود الأشعة السينية للهياكل الدقيقة لأغشية الذهب الرقيقة بواسطة معادلة شيرورو نموذج مخطط حجم الإجهاد
المصدر: مجلة شمال إفريقيا للنشر العلمي
الناشر: الأكاديمية الأفريقية للدراسات المتقدمة
المؤلف الرئيسي: اخويطر، مريم (مؤلف)
المؤلف الرئيسي (الإنجليزية): Akhwater, Maryam
المجلد/العدد: مج2, ع4
محكمة: نعم
الدولة: ليبيا
التاريخ الميلادي: 2024
الشهر: ديسمبر
الصفحات: 33 - 40
ISSN: 2959-4820
رقم MD: 1525489
نوع المحتوى: بحوث ومقالات
اللغة: الإنجليزية
قواعد المعلومات: EduSearch, HumanIndex
مواضيع:
كلمات المؤلف المفتاحية:
أغشية الذهب الرقيقة | الحجم البلوري | حيود الأشعة السينية | طريقة شيرور المعدلة | مخطط حجم الإجهاد | Au Thin Films | Crystallite Size | X-Ray Diffraction | Modified Scherrer Method | Strain Size Plot
رابط المحتوى:
صورة الغلاف QR قانون
حفظ في:
ISSN: 2959-4820

عناصر مشابهة