ارسل ملاحظاتك

ارسل ملاحظاتك لنا







الرئيسية > تأثير أشعة كاما على الخصائص ال...>مارك

تأثير أشعة كاما على الخصائص التريكبية لأغشية ثنائي أوكسيد القصدير المشوبة بالفلور

المصدر: مجلة كلية التربية
الناشر: الجامعة المستنصرية - كلية التربية
المؤلف الرئيسي: جياد، سامي سلمان (مؤلف)
مؤلفين آخرين: محمود، راجحة رشيد (م. مشارك) , حبوبي، نادر فاضل (م. مشارك)
المجلد/العدد: ع 5
محكمة: نعم
الدولة: العراق
التاريخ الميلادي: 2005
الصفحات: 278 - 290
ISSN: 1812-0380
رقم MD: 423512
نوع المحتوى: بحوث ومقالات
قواعد المعلومات: EduSearch
مواضيع:
الأغشية الرقيقة | الفيزياء | ثنائي أوكسد القصدير | الأشعة السينية | طريقة الترسيب الكيميائي الحراري | الفلور | المجهر الضوئي
رابط المحتوى:

الناشر لهذه المادة لم يسمح بإتاحتها.
صورة الغلاف QR قانون
حفظ في:
LEADER 03525nam a22002177a 4500
001 1072079
044 |b العراق 
100 |9 206280  |a جياد، سامي سلمان  |e مؤلف 
245 |a تأثير أشعة كاما على الخصائص التريكبية لأغشية ثنائي أوكسيد القصدير المشوبة بالفلور  
260 |b الجامعة المستنصرية - كلية التربية  |c 2005 
300 |a 278 - 290  
336 |a بحوث ومقالات 
520 |a حضرت أغشية SnO2 وأغشية SnO2:F من أملاح القصدير والمتمثلة بـ SnCL2.2H2O وبظروف تحضير جديدة وباستخدام طريقة الترسيب الكيميائي الحراري. لقد تم دراسة الخصائص التركيبية والبصرية للأغشية المحضرة كافة بنسب التشويب المنتخبة قبل وبعد تعريضها لجرعة من أشعة كاما. وباستخدام تقنيى حيود الأشعة السينية تم دراسة الخصائص التركيبية للأغشية غير المشوبة والمشوبة بالفلور. لقد وجد أن الأغشية المحضرة ذات تركيب متعدد التبلور وقد بينت الدراسة وجود عدد من المستويات هي (101) و(200) و(211) كان المستوى التفضيلي فيها هو (110). أن أشعة كاما قد أدت إلى نقصان في شدة المستويات عن قيمتها قبل التشعيع كذلك فإن عرض النصف للقمة قد ازداد عن قيمته قبل التشعيع مما أدى إلى نقصان في معدل الحجم الحبيبي. درست طوبوغرافية السطح قبل التشعيع باستخدام المجهز الضوئي لقد وجد أن التشعيع قد أدي إلى زيادة العيوب التركيبية في هذه الأغشية ومن ثم إلى نقصان درجة التبلور.  |b Thin films of Sn02 and SnO2:F have been prepared using SnC12.2H20 with a new preparation conditions utilizing chemical spray pyrolysis. The structural and optical properties have been studied for the as deposited thin films before and after irradiation by gamma rays. By XRD technique, it was found that the structure of the as deposited thin films was polycrystalline, different peaks corresponds to (101), (200), (211), with a preferred orientation along (110) direction, the exposure of the as deposited films to a selected dose of gamma rays, seems to decreas the intensity of these peaks and increase the full width at half maxima which leads to an increase in the average of grain size. Surface topography for the as deposited films were studied using a microscope, it was found that radiation increase the structural defect and hence decrease the degree of crystallinity. 
653 |a الأغشية الرقيقة   |a الفيزياء   |a ثنائي أوكسد القصدير   |a الأشعة السينية   |a طريقة الترسيب الكيميائي الحراري   |a الفلور   |a المجهر الضوئي  
700 |9 311613  |a محمود، راجحة رشيد  |e م. مشارك 
773 |4 التربية والتعليم  |6 Education & Educational Research  |c 021  |l 005  |m ع 5  |o 1151  |s مجلة كلية التربية  |t Journal of Faculty of Education  |v 005  |x 1812-0380 
700 |9 207696  |a حبوبي، نادر فاضل  |g Habubi, Nadir F.  |e م. مشارك 
856 |u 1151-005-005-021.pdf 
930 |d n  |p y 
995 |a EduSearch 
999 |c 423512  |d 423512 

عناصر مشابهة


© 2024 المنظومة. جميع الحقوق محفوظة.