ارسل ملاحظاتك

ارسل ملاحظاتك لنا







الرئيسية > Structural Properties of Vacuu...>الوصف

Structural Properties of Vacuum Evaporated ZnSe Thin Films

المصدر: مجلة كلية التربية
الناشر: الجامعة المستنصرية - كلية التربية
المؤلف الرئيسي: Hassan, Abbas K. (Author)
مؤلفين آخرين: Alwan, Tariq J. (co-Auth) , Dakhel, Usama A. (co-Auth)
المجلد/العدد: ع 3
محكمة: نعم
الدولة: العراق
التاريخ الميلادي: 2008
الصفحات: 376 - 382
ISSN: 1812-0380
رقم MD: 426158
نوع المحتوى: بحوث ومقالات
اللغة: الإنجليزية
قواعد المعلومات: EduSearch
مواضيع:
طريقة التبخير الحراري | مستخلصات الأبحاث | الفيزياء | الأغشية الرقيقة | أغشية ZnSe | الأشعة السينية
رابط المحتوى:

الناشر لهذه المادة لم يسمح بإتاحتها.
صورة الغلاف QR قانون
حفظ في:
المستخلص: تم تبخير أغشية ZnSe الرقيقة على أرضيات زجاجية بطريقة التبخير الحراري عند درجة حرارة الغرفة ولدنة الأغشية المحضرة بدرجات حرارة(k423،473،573) حيث أظهرت فحوصات الأشعة السينية أن جميع الأغشية المحضرة والملدنة تمتلك تركيب متعدد التبلور من نوع متمركز الأوجه.f.c.c كل الأغشية المحضرة تمتلك توجه تفضيلي باتجاه [١١١] مع توجه باتجاه [٠ ٢٢] و [٣١١] للأغشية الملدنة بدرجة حرارة k٥٧٣. اجري حساب الثوابت التركيبية مثل (ثابت الشبكية، حجم البلورة، معدل الإجهاد الداخلي، المطاوعة المايكروية، كثافة الانخلاعات) للأغشية المحضرة وحساب تأثير التلدين طيها.

Thermally evaporated ZnSe thin films deposited on glass substrates within R.T and annealing (Ta) at 423،473،573°K are of polycrystalline nature having f.c.c. Zinc blend structure. The most preferential orientation is along p direction for all deposited films together with other abundant planes 220] and [311] for films annealing at 573 K. The lattice parameter, grain size average internal stress, microstrain, dislocation density in the film are calculated and correlated with Ta.
وصف العنصر: أصل المقال منشور باللغة الإنجليزية
ISSN: 1812-0380

عناصر مشابهة


© 2024 المنظومة. جميع الحقوق محفوظة.