Automatic Testing and Fault Detection for Digital and Microprocessor Circuits
| المؤلف الرئيسي: | El Sherif, Hisham Mostafa Kamal (auth) |
|---|---|
| مؤلفين آخرين: | Mahrous, Safwat M. (Advisor), Asfour, R. A. (Advisor), El Hennawy, H. (Advisor) |
| التاريخ الميلادي: |
1991
|
| موقع: | القاهرة |
| الصفحات: | 1 - 141 |
| رقم MD: | 565408 |
| نوع المحتوى: | رسائل جامعية |
| اللغة: | الإنجليزية |
| الدرجة العلمية: | رسالة ماجستير |
| الجامعة: | جامعة عين شمس |
| الكلية: | كلية الهندسة |
| الدولة: | مصر |
| قواعد المعلومات: | Dissertations |
| مواضيع: | |
| رابط المحتوى: |
الناشر لهذه المادة لم يسمح بإتاحتها. |
عناصر مشابهة
-
Deterministic built-in self test for digital circuits
بواسطة: Al Yamani, Ahmad A. منشور: (2004) -
Digital MOS Multilevel Circuits
بواسطة: Mahmoud, Abd Alfattah S. Yousif منشور: (1989) -
Microprocessor based digital protective scheme for short lines
بواسطة: Tawfik, Mohammed Mostafa M. منشور: (1994) -
A Digital Negative Sequence Over Current Relaying Algorithm For Detection of Unsymmetrical Faults on 11 KV Line
بواسطة: Musa, Mahmud H. منشور: (2004) -
Microprocessor-Based Speed Control of DC Motor FED from Semiconverter Supply
بواسطة: Amer, Sanaa Mohamed Ibrahim منشور: (1991)
