Automatic Testing and Fault Detection for Digital and Microprocessor Circuits

المؤلف الرئيسي:	El Sherif, Hisham Mostafa Kamal (auth)
مؤلفين آخرين:	Mahrous, Safwat M. (Advisor) , Asfour, R. A. (Advisor) , El Hennawy, H. (Advisor)
التاريخ الميلادي:	1991
موقع:	القاهرة
الصفحات:	1 - 141
رقم MD:	565408
نوع المحتوى:	رسائل جامعية
اللغة:	الإنجليزية
الدرجة العلمية:	رسالة ماجستير
الجامعة:	جامعة عين شمس
الكلية:	كلية الهندسة
الدولة:	مصر
قواعد المعلومات:	Dissertations
مواضيع:	الهندسة الكهربائية \| الدوائر الالكترونية \| المعالجات الصغيرة
رابط المحتوى:	صفحة العنوان المستخلص قائمة المحتويات 24 صفحة الأولى الناشر لهذه المادة لم يسمح بإتاحتها.

LEADER	01491nam a22003497a 4500
001	1461733
041		\|a eng
100		\|9 29231 \|a El Sherif, Hisham Mostafa Kamal \|e auth
245		\|a Automatic Testing and Fault Detection for Digital and Microprocessor Circuits
260		\|c 1991 \|a القاهرة
300		\|a 1 - 141
336		\|a رسائل جامعية
502		\|b رسالة ماجستير \|c جامعة عين شمس \|f كلية الهندسة \|g مصر \|o 0002
653		\|a الهندسة الكهربائية \|a الدوائر الالكترونية \|a المعالجات الصغيرة
700		\|9 39041 \|a Mahrous, Safwat M. \|e Advisor
700		\|9 21433 \|a Asfour, R. A. \|e Advisor
700		\|9 27955 \|a El Hennawy, H. \|e Advisor
856		\|u 9801-001-005-0002-T.pdf \|y صفحة العنوان
856		\|u 9801-001-005-0002-A.pdf \|y المستخلص
856		\|u 9801-001-005-0002-C.pdf \|y قائمة المحتويات
856		\|u 9801-001-005-0002-F.pdf \|y 24 صفحة الأولى
856		\|u 9801-001-005-0002-1.pdf \|y 1 الفصل
856		\|u 9801-001-005-0002-2.pdf \|y 2 الفصل
856		\|u 9801-001-005-0002-3.pdf \|y 3 الفصل
856		\|u 9801-001-005-0002-4.pdf \|y 4 الفصل
856		\|u 9801-001-005-0002-5.pdf \|y 5 الفصل
856		\|u 9801-001-005-0002-6.pdf \|y 6 الفصل
856		\|u 9801-001-005-0002-R.pdf \|y المصادر والمراجع
856		\|u 9801-001-005-0002-S.pdf \|y الملاحق
930		\|d n
995		\|a Dissertations
999		\|c 565408 \|d 565408