A Dosimetry Framework for Amorphous-Silicon Based Flat Panel Electronic Portal Imaging Devices
| العنوان بلغة أخرى: |
ِ |
|---|---|
| المؤلف الرئيسي: | Al Shanqity, Mukhtar (Author) |
| مؤلفين آخرين: | Adeyemi, Abdeyemi (Super) |
| التاريخ الميلادي: |
2013
|
| موقع: | غلدفورد |
| الصفحات: | 1 - 190 |
| رقم MD: | 601205 |
| نوع المحتوى: | رسائل جامعية |
| اللغة: | الإنجليزية |
| الدرجة العلمية: | رسالة دكتوراه |
| الجامعة: | University of Surrey |
| الكلية: | Faculty of Engineering and Physical Sciences |
| الدولة: | بريطانيا |
| قواعد المعلومات: | +Dissertations |
| مواضيع: | |
| رابط المحتوى: |
الناشر لهذه المادة لم يسمح بإتاحتها. |
عناصر مشابهة
-
Investigating the possibility of establishing an electronic recycling facility in Saudi Arabia
بواسطة: Al Khorayef, Abd Alaziz Abd Alrahman منشور: (2008) -
IMAGE PROCESSING BASED CONTAMINATION LEVEL MONITORING OF HIGH VOLTAGE INSULATOR
بواسطة: Maraaba, Luqman Sulyman Faez منشور: (2013) -
Monte Carlo Calculations of the Perturbation Correction Factors for Proton with Parallel Plate PTW Roos 34001 Chamber
بواسطة: Al Assafi, Jamaan منشور: (2012) -
Deep Level Uniformity in silicon For Charge coupled Devices
بواسطة: Al Awami, Moneer H. B منشور: (1983) -
Effect of Ag2O Nanosheets Thickness on the Performance of Al / GeO2 / Ag2O / GeO2 / C Multifunctional Electronic Devices
بواسطة: قصراوي، عاطف فايز منشور: (2023)
