ارسل ملاحظاتك

ارسل ملاحظاتك لنا







Wakefield Driven by an Accelerated Electrons Beam During its Photoemission from the Cathode in a “Pill-Box” Cavity

العنوان بلغة أخرى: مجال الأثر لحزمة الكترونات متسارعة خلال انبعاثها من القطب السالب في فجوة اسطوانية
المؤلف الرئيسي: Al Khawaldeh, Sajedah Mohammad Suliman (Author)
مؤلفين آخرين: Salah, Wael Naji (Advisor)
التاريخ الميلادي: 2014
موقع: الزرقاء
الصفحات: 1 - 58
رقم MD: 748516
نوع المحتوى: رسائل جامعية
اللغة: الإنجليزية
الدرجة العلمية: رسالة ماجستير
الجامعة: الجامعة الهاشمية
الكلية: عمادة البحث العلمي والدراسات العليا
الدولة: الاردن
قواعد المعلومات: Dissertations
مواضيع:
رابط المحتوى:
صورة الغلاف QR قانون

عدد مرات التحميل

9

حفظ في:
المستخلص: الأنماط الطبيعية المعتمدة على الزمن تقنية فعالة لدراسة أثر المجال بواسطة حزمة إلكترون مسرعة في قرص اسطواني . استخدمنا هذه التقنية لإشتقاق معادلة الكهرومغناطيسية المصاحبة لحزمة من الالكترونات خلال انبعاثها من "المهبط" في فجوة الليزر للحاقن الضوئي ذو التردد الراديوي “ELSA” .افترضنا ان الحزمة صلبة ذات شكل اسطواني حتى عبورها التجويف للحاقن الضوئي ذو التردد الراديوي. وهذا التقريب فعال حتى بوجود تذبذب سينكرتروني , لان التغير في المسافة الطولية بين كل الكترونين خلال الحزمة مهمل بالنسبة الى طول الحزمة . وهذا يتطلب بأن المسافة الطولية بين جسمي اختبار خلف المصدر لا تتغير. غير أنها , تأتي خلف رأس الحزمة للإلكترونات التي تقع في ذيل الحزمة , التي تبقى تحت تأثير القوة التعويقية وبالتالي تستمر في استقبال الطاقة طالما الحزمة تشق طريقها في “Pill-Box” كلما كان مجال الأثر قيمته سالب . تبين بالنتائج الرقمية أن أثر المجال يكون سالب كلما كانت قيمة z قليلة. اثر المجال العرضي يساوي صفر عندما تكون قيمة z تساوي صفر مما يعني بأن الإلكترونات لن ترى أثر المجال العرضي الخاص بها على الإطلاق. وهذا يؤدي الى نتيجة مهمة وهي أن الحزمة القصيرة يكون أثر المجال السائد هو أثر المجال العرضي, بينما في الحزم الطويلة يكون أثر المجال السائد هو أثر المجال الطولي. مركبة المجال المغناطيسي الزاوية سوف تؤدي الى انحناء مسار الالكترونات داخل حزمة الالكترون وهذا الانحناء يؤدي الى ضياع طاقة الالكترونات في الحزمة.