المصدر: | مجلة التربوي |
---|---|
الناشر: | جامعة المرقب - كلية التربية بالخمس |
المؤلف الرئيسي: | Al Shuaib, A. M. (Author) |
مؤلفين آخرين: | Ashmila, E. M. (Co-Author) , Muftah, G. E. A. (Co-Author) |
المجلد/العدد: | ع9 |
محكمة: | نعم |
الدولة: |
ليبيا |
التاريخ الميلادي: |
2016
|
الشهر: | يوليو |
الصفحات: | 462 - 475 |
ISSN: |
2011-421X |
رقم MD: | 762735 |
نوع المحتوى: | بحوث ومقالات |
اللغة: | الإنجليزية |
قواعد المعلومات: | EduSearch |
مواضيع: | |
كلمات المؤلف المفتاحية: |
CuInSe2 Thin Film | Photovoltaic (PV) Energy | The Chalcopyrite CuInSe2
|
رابط المحتوى: |
المستخلص: |
الهدف من هذه الورقة البحثية هو دراسة مورفولوجيا وتكوين أغشية CuInSe2 الرقيقة المصنعة بطريقة الرص المتتالي لطبقات العناصر الأساسية SEL. تم تسخين الأغشية بطرق مختلفة لزيادة طور Chalcopyrite الذي قد يحسن الخصائص الكهربائية والبصرية لتلك الأغشية. يسود طور Chalcopyrite عندما تسخن العينات إلى درجة حرارة 400oC مباشرة أو بالتدرج لمدة 50 دقيقة بوجود غاز الأرجون، وتسخينه في الفراغ لمدة 15 دقيقة. تم تشخيص مكونات هذه الأغشية الرقيقة بإيجاد النسب المئوية للمكونات الذرية وكذلك باستخدام تقنية حيود الأشعة السينية. وتصف هذه الورقة إنتاج أغشية CuInSe2 متعددة البلورات (Polycrystalline) ذو قمم حيود واضحة المعالم. وقد دُرست النسب المئوية الذرية للمركب لغرض التحقق من تكون الأغشية المطلوبة. كما استخدمت شاشة الكوارتز البلورية لمراقبة سمك الطبقات المختلفة. The aim of this study is to investigate the morphology and composition of the CuInSe2 thin film deposited by Stacked Elemental Layer technique SEL. The films were annealed in different ways to increase the chalcopyrite phase which may improve its’ electrical and optical properties. The chalcopyrite phase dominates when samples heated or step heated at 400oC for 40 – 50 minutes in argon, and for 15 minutes in vacuum. Deposited films were characterized using Atomic percentage composition and x-ray diffraction techniques. This paper describes the production of well-formed polycrystalline CuInSe2 and well defined XRD peaks. Atomic percentage composition has been studied in order to investigate the composition of the films. The thickness of layers were monitored by a quartz crystal monitor. |
---|---|
ISSN: |
2011-421X |