ارسل ملاحظاتك

ارسل ملاحظاتك لنا







النانو مترولوجي ضرورة حتمية لمواكبة تطبيقات النانو تكنولوجي

المصدر: المجلة العربية للجودة والتميز
الناشر: مركز الوراق للدراسات والأبحاث
المؤلف الرئيسي: حلاوة، ممدوح مصطفى (مؤلف)
المجلد/العدد: مج1, ع2
محكمة: نعم
الدولة: الأردن
التاريخ الميلادي: 2014
الصفحات: 160 - 172
ISSN: 2521-9294
رقم MD: 793006
نوع المحتوى: بحوث ومقالات
قواعد المعلومات: EcoLink
مواضيع:
رابط المحتوى:
صورة الغلاف QR قانون

عدد مرات التحميل

116

حفظ في:
ISSN: 2521-9294

عناصر مشابهة