ارسل ملاحظاتك

ارسل ملاحظاتك لنا







النانو مترولوجي ضرورة حتمية لمواكبة تطبيقات النانو تكنولوجي

المصدر: المجلة العربية للجودة والتميز
الناشر: مركز الوراق للدراسات والأبحاث
المؤلف الرئيسي: حلاوة، ممدوح مصطفى (مؤلف)
المجلد/العدد: مج1, ع2
محكمة: نعم
الدولة: الأردن
التاريخ الميلادي: 2014
الصفحات: 160 - 172
ISSN: 2521-9294
رقم MD: 793006
نوع المحتوى: بحوث ومقالات
قواعد المعلومات: EcoLink
مواضيع:
رابط المحتوى:
صورة الغلاف QR قانون

عدد مرات التحميل

116

حفظ في:
LEADER 00803nam a22001937a 4500
001 0265882
044 |b الأردن 
100 |9 421523  |a حلاوة، ممدوح مصطفى  |q Halawah, Mamdouh Mustafa  |e مؤلف 
245 |a النانو مترولوجي ضرورة حتمية لمواكبة تطبيقات النانو تكنولوجي 
260 |b مركز الوراق للدراسات والأبحاث  |c 2014 
300 |a 160 - 172 
336 |a بحوث ومقالات 
653 |a النانو مترولوجي 
653 |a النانو تكنولوجي 
773 |c 005  |l 002  |m مج1, ع2  |o 1659  |s المجلة العربية للجودة والتميز  |t Arab Journal of Quality and Excellence  |v 001  |x 2521-9294 
856 |u 1659-001-002-005.pdf 
930 |d y  |p y 
995 |a EcoLink 
999 |c 793006  |d 793006 

عناصر مشابهة