ارسل ملاحظاتك

ارسل ملاحظاتك لنا









Effet du coefficient de réflexion et de la profonde de jonction sur les caractéristiques électriques d’une photopile au silicium monocristallin

العنوان بلغة أخرى: تأثير معامل الانعكاس وعمق طبقة التنشيط على الخصائص الكهربائية لبطارية شمسية مصنوعة من السيلسيوم الأحادي البلورات
المصدر: مجلة البحوث والدراسات
الناشر: جامعة الشهيد حمه لخضر الوادي
المؤلف الرئيسي: Hakim, Chenoufi (Author)
المجلد/العدد: ع5
محكمة: نعم
الدولة: الجزائر
التاريخ الميلادي: 2007
الشهر: جويلية
الصفحات: 11 - 23
ISSN: 1112-4938
رقم MD: 895970
نوع المحتوى: بحوث ومقالات
اللغة: الفرنسية
قواعد المعلومات: EduSearch, AraBase
مواضيع:
رابط المحتوى:
صورة الغلاف QR قانون
حفظ في:
LEADER 01214nam a22002177a 4500
001 1646237
041 |a fre 
044 |b الجزائر 
100 |9 480284  |a Hakim, Chenoufi  |e Author 
245 |a Effet du coefficient de réflexion et de la profonde de jonction sur les caractéristiques électriques d’une photopile au silicium monocristallin 
246 |a تأثير معامل الانعكاس وعمق طبقة التنشيط على الخصائص الكهربائية لبطارية شمسية مصنوعة من السيلسيوم الأحادي البلورات 
260 |b جامعة الشهيد حمه لخضر الوادي  |c 2007  |g جويلية 
300 |a 11 - 23 
336 |a بحوث ومقالات 
653 |a الخلايا الشمسية السيليكونية  |a معامل الانعكاس  |a الخصائص الكهربائية  |a البطارية الشمسية 
773 |4 الادب  |4 التربية والتعليم  |6 Literature  |6 Education & Educational Research  |c 015  |l 005  |m ع5  |o 1724  |s مجلة البحوث والدراسات  |t Journal of Research and Studies  |v 000  |x 1112-4938 
856 |u 1724-000-005-015.pdf 
930 |d n  |p y 
995 |a EduSearch 
995 |a AraBase 
999 |c 895970  |d 895970