Purification of Sand "SiO2" and Studying its Structural and Optical Properties
| المؤلف الرئيسي: | Abdelrazig, Murwan Dafallah Hamdalneil (Author) |
|---|---|
| مؤلفين آخرين: | مصطفى، الطيب موسى (مشرف) |
| التاريخ الميلادي: |
2019
|
| موقع: | الخرطوم |
| الصفحات: | 1 - 26 |
| رقم MD: | 1102415 |
| نوع المحتوى: | رسائل جامعية |
| اللغة: | الإنجليزية |
| الدرجة العلمية: | رسالة ماجستير |
| الجامعة: | جامعة النيلين |
| الكلية: | كلية الدراسات العليا |
| الدولة: | السودان |
| قواعد المعلومات: | Dissertations |
| مواضيع: | |
| رابط المحتوى: |
عدد مرات التحميل
9
| المستخلص: |
في هذا البحث تمت دراسة الخصائص التركيبية والضوئية لأوكسيد السيليكون المحضر بالطريقة الحرارية ودرست الخصائص التركيبية والضوئية بواسطة جهاز حيود الأشعة السينية وجهاز التحليل الكمي الطيفي للأشعة تحت الحمراء وجهاز مطيافية الأشعة فوق البنفسجية والمرئية ووجد أن هنالك زيادة في فجوة الطاقة من 1.859 إلكترون فولت للعينة المفلترة إلى 1.894 إلكترون فولت للعينة غير المفلترة وكذلك نقصان في قيمة امتصاصية عينة أوكسيد السيليكون المفلترة ومعامل الامتصاصية ومعامل التوهين أما نتائج التحليل الكمي O-H، N-H، C-Br، C-o للعينة المفلترة بينما وجدت بالإضافة للروابط السابقة رابطة C-H للأشعة تحت الحمراء أظهرت روابط للعينة غير المفلترة. أما تحليل تشتت الأشعة السينية أعطى نتائج مثل حجم البلورة المحسوب عن طريق معادلة شيرر ومن النتائج السابقة يمكن استخدام العينات في الخلايا الشمسية. |
|---|
عناصر مشابهة
-
CuO Films Prepared by Chemical SprayPyrolysis and Studythe Structural and Optical Properties
بواسطة: Hussein, Anwar Nazar منشور: (2015) -
Optical Properties of Amorphous a-Si:C:H Thin Films and Photo--Induced Structural Changes
بواسطة: Al Falahie, Ibrahim Jassim Abd Alleh منشور: (1992) -
Structural and Optical Properties of SnO2 Doped ZnO thin Films Prepared by Pulsed Nd:YAG Laser Deposition
بواسطة: عادم، كاظم عبدالواحد منشور: (2019) -
Structural and Optical Properties of Lead Selenide Thin Films
بواسطة: Jaboori, Eman M. منشور: (2011) -
Study the Surface Characterization of Anodic Grow SiO2 Nano Film on Si by Using AFM
بواسطة: Issa, Assim A. منشور: (2018)
