Deterministic built-in self test for digital circuits

المؤلف الرئيسي:	Al Yamani, Ahmad A. (Author)
مؤلفين آخرين:	McCluskey, Edward J. (Super)
التاريخ الميلادي:	2004
موقع:	ستانفورد
الصفحات:	1 - 126
رقم MD:	614816
نوع المحتوى:	رسائل جامعية
اللغة:	الإنجليزية
الدرجة العلمية:	رسالة دكتوراه
الجامعة:	Stanford University
الكلية:	College of Engineering
الدولة:	الولايات المتحدة الأمريكية
قواعد المعلومات:	+Dissertations
مواضيع:	الهندسة الكهربائية \| الاختبار الذاتي \| الدوائر الرقمية
رابط المحتوى:	صفحة العنوان المستخلص قائمة المحتويات 24 صفحة الأولى الناشر لهذه المادة لم يسمح بإتاحتها.

LEADER	01447nam a22003377a 4500
001	0283332
041		\|a eng
100		\|9 20188 \|a Al Yamani, Ahmad A. \|e Author
245		\|a Deterministic built-in self test for digital circuits
260		\|a ستانفورد \|c 2004
300		\|a 1 - 126
336		\|a رسائل جامعية
502		\|b رسالة دكتوراه \|c Stanford University \|f College of Engineering \|g الولايات المتحدة الأمريكية \|o 0005
653		\|a الهندسة الكهربائية \|a الاختبار الذاتي \|a الدوائر الرقمية
700		\|9 39902 \|a McCluskey, Edward J. \|e Super
856		\|u 9824-140-001-0005-T.pdf \|y صفحة العنوان
856		\|u 9824-140-001-0005-A.pdf \|y المستخلص
856		\|u 9824-140-001-0005-C.pdf \|y قائمة المحتويات
856		\|u 9824-140-001-0005-F.pdf \|y 24 صفحة الأولى
856		\|u 9824-140-001-0005-1.pdf \|y 1 الفصل
856		\|u 9824-140-001-0005-2.pdf \|y 2 الفصل
856		\|u 9824-140-001-0005-3.pdf \|y 3 الفصل
856		\|u 9824-140-001-0005-4.pdf \|y 4 الفصل
856		\|u 9824-140-001-0005-5.pdf \|y 5 الفصل
856		\|u 9824-140-001-0005-6.pdf \|y 6 الفصل
856		\|u 9824-140-001-0005-7.pdf \|y 7 الفصل
856		\|u 9824-140-001-0005-R.pdf \|y المصادر والمراجع
856		\|u 9824-140-001-0005-S.pdf \|y الملاحق
930		\|d n
995		\|a +Dissertations
999		\|c 614816 \|d 614816