Characterization of Deep-Levels in Semiconductors by Photo Reflectance Spectroscopy

المؤلف الرئيسي:	AI Arfaj, Esam Abd Allah (Author)
مؤلفين آخرين:	Alavi, Kambiz (Advisor)
التاريخ الميلادي:	2001
موقع:	ريتشاردسون
الصفحات:	1 - 155
رقم MD:	616653
نوع المحتوى:	رسائل جامعية
اللغة:	الإنجليزية
الدرجة العلمية:	رسالة دكتوراه
الجامعة:	University of Texas at Dallas
الكلية:	School of Arts and Humanities
الدولة:	الولايات المتحدة الأمريكية
قواعد المعلومات:	+Dissertations
مواضيع:	الإنعكاس الطيفي \| التحليل الطيفي \| الأشعة \| الموصلات وأشباه الموصلات
رابط المحتوى:	صفحة العنوان المستخلص قائمة المحتويات 24 صفحة الأولى الناشر لهذه المادة لم يسمح بإتاحتها.