Characterization of Deep-Levels in Semiconductors by Photo Reflectance Spectroscopy

المؤلف الرئيسي:	AI Arfaj, Esam Abd Allah (Author)
مؤلفين آخرين:	Alavi, Kambiz (Advisor)
التاريخ الميلادي:	2001
موقع:	ريتشاردسون
الصفحات:	1 - 155
رقم MD:	616653
نوع المحتوى:	رسائل جامعية
اللغة:	الإنجليزية
الدرجة العلمية:	رسالة دكتوراه
الجامعة:	University of Texas at Dallas
الكلية:	School of Arts and Humanities
الدولة:	الولايات المتحدة الأمريكية
قواعد المعلومات:	+Dissertations
مواضيع:	الإنعكاس الطيفي \| التحليل الطيفي \| الأشعة \| الموصلات وأشباه الموصلات
رابط المحتوى:	صفحة العنوان المستخلص قائمة المحتويات 24 صفحة الأولى الناشر لهذه المادة لم يسمح بإتاحتها.

LEADER	01576nam a22003497a 4500
001	0028523
041		\|a eng
100		\|9 8408 \|a AI Arfaj, Esam Abd Allah \|e Author
245		\|a Characterization of Deep-Levels in Semiconductors by Photo Reflectance Spectroscopy
260		\|a ريتشاردسون \|c 2001
300		\|a 1 - 155
336		\|a رسائل جامعية
502		\|b رسالة دكتوراه \|c University of Texas at Dallas \|f School of Arts and Humanities \|g الولايات المتحدة الأمريكية \|o 0002
653		\|a الإنعكاس الطيفي \|a التحليل الطيفي \|a الأشعة \|a الموصلات وأشباه الموصلات
700		\|9 9859 \|a Alavi, Kambiz \|e Advisor
856		\|u 9824-311-002-0002-T.pdf \|y صفحة العنوان
856		\|u 9824-311-002-0002-A.pdf \|y المستخلص
856		\|u 9824-311-002-0002-C.pdf \|y قائمة المحتويات
856		\|u 9824-311-002-0002-F.pdf \|y 24 صفحة الأولى
856		\|u 9824-311-002-0002-1.pdf \|y 1 الفصل
856		\|u 9824-311-002-0002-2.pdf \|y 2 الفصل
856		\|u 9824-311-002-0002-3.pdf \|y 3 الفصل
856		\|u 9824-311-002-0002-4.pdf \|y 4 الفصل
856		\|u 9824-311-002-0002-5.pdf \|y 5 الفصل
856		\|u 9824-311-002-0002-6.pdf \|y 6 الفصل
856		\|u 9824-311-002-0002-7.pdf \|y 7 الفصل
856		\|u 9824-311-002-0002-8.pdf \|y 8 الفصل
856		\|u 9824-311-002-0002-R.pdf \|y المصادر والمراجع
856		\|u 9824-311-002-0002-S.pdf \|y الملاحق
930		\|d n
995		\|a +Dissertations
999		\|c 616653 \|d 616653